物理量・物性測定装置の製品一覧
全87件見つかりました。
粗さ測定を線から面へ。高い垂直分解能で、広い面積について面粗さを測定できます。
「光干渉方式」の採用により、垂直方向の高い分解能と広い観察範囲を同時に実現しました。「非接触表面形状計測」の他、「層断面計測」も可能です。垂直分解能0.01nm、面内分解能350nm～。
10,500,000円～
株式会社 日立ハイテク｜最終更新日：2020/07/13
AFM/SPMプローブ
大気・液中測定用プローブ。タッピングモード、ダイナミックモードでご使用いただけます。 セイコーインスツルもしくは日立ハイテクノロジーズ製SPMでノンコンタクトモードをご使用のお客様は、こちらをお使いください。
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株式会社NanoAndMoreジャパン｜最終更新日：2020/06/02
デジタルマイクロスコープ専門メーカーの最新機種。高精細画像、正確さ、操作性を追求。また「選べるデジタルマイクロスコープシステム」ですべての皆様に最適なご提案を致します。
4Kモニター対応デジタルマイクロスコープ「HRX-01」0～7,000倍の観察倍率。従来の一体型モデルと異なり、シンプル（観察特化）から、フルスペック（多機能）システムで、 機能選択が可能です。新製品として「高解像度テレセン電動ズームレンズ（10～200倍）」もオススメです。広視野でありがながら歪みの少ない画像を捉えます。電動ズーム制御も追加され、より簡単に使用可能です。
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株式会社ハイロックス｜最終更新日：2020/06/01
uniqprobe™ ユニーク・プローブシリーズ 仕様のばらつきが格段に低いライフサイエンス向けSPMプローブ
カンチレバーは水晶のような素材（クォーツライク）で作られ、探針はカンチレバーと一体に形成されています。化学的に不活性で、流体や電気化学セルなどでもご使用が可能。 また、カンチレバーに曲がりがなく、液中環境測定時に起こりがちなドリフトを著しく低減させます。 シリコン製に比べ個々のプローブの仕様のばらつきが傑出して小さく、理想的なライフサイエンス向けプローブです。
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株式会社NanoAndMoreジャパン｜最終更新日：2020/06/01
小型で優れた除振性能を持つアクティブ制御のデスクトップ除振台NANOシリーズ
ドイツAccurion社のアクティブ除振台NANOシリーズは小型で優れた除振性能を持ったデスクトップ除振台です。 原子間力顕微鏡・走査プローブ顕微鏡に最適な、従来にない小型サイズ。外部振動をキャンセルするアクティブ除振機能を備えた高性能除振台です。面倒なセットアップ作業はなく、スイッチを入れるだけで起動。デスクトップタイプですので移動も簡単です。
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株式会社NanoAndMoreジャパン｜最終更新日：2020/05/28
SPMや干渉計に最適なアクティブ除振方式の高性能デスクトップ除振台
外部振動をキャンセルするアクティブ除振機能を備えた高性能除振台。面倒なセットアップ作業はなく、スイッチを入れるだけで起動。コントローラ内蔵のデスクトップタイプですので移動も簡単です。デモ機ございます。
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株式会社NanoAndMoreジャパン｜最終更新日：2020/05/28
AFM、SPMに最適な防音ボックス
防音ボックスAEシリーズは、遮音機能を持つ防音パネルで作られた防音ボックスです。
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株式会社NanoAndMoreジャパン｜最終更新日：2020/05/18
熱分析は、NEXTステージへ。 高精度・高感度と優れた操作性を両立したNEXTA STA。
高評価を頂いていたデジタル水平差動天秤方式に加えて、新しく取り入れた天秤制御技術で、ugオーダーでのベースライン安定性、再現性を実現しました。また、高い温度制御技術による様々な温度プログラムへの対応、DTAからDSCに進化し比熱容量測定まで対応、試料観察測定の対応、高いレベルのガス置換性を実現しています。従来の測定用途に加えて、複合材料の成分定量、微量水分量の定量といった分析に威力を発揮します。
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株式会社 日立ハイテクサイエンス｜最終更新日：2020/04/27
より正確なナノ3D計測
広域フラットスキャナを搭載し、メカニカル起因の測定誤差を排除した走査型プローブ顕微鏡システムAFM5500Mなら、ナノメートルレベルの凹凸構造やうねりを高精度に測定できます。カンチレバーの装着・交換、光軸調整の自動化により、オペレーターの負担を軽減し、SEM、各観察装置との座標リンケージを実現しました。
24,800,000円～(プローブステーション込み）
株式会社 日立ハイテク｜最終更新日：2020/04/06
光の干渉現象を利用して微細な表面形状測定を行い、高機能フィルムや半導体、自動車部品、ディスプレイ業界において求められている高精度な計測を実現します。
光の干渉現象を利用し、高精度かつ広範囲な表面形状計測を高速に行うことができます。従来の線粗さ測定では、測定箇所や走査方向に依存するバラつきが課題でした。その対応として定められたISO25178のパラメータ算出法を採用したVS1800は、表面形状の新たなスタンダードです。高さ分解能0.1nm以下で、AFMに比べ広い面に対し測定可能です。
15,600,000円～
株式会社 日立ハイテク｜最終更新日：2020/03/25
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